日本理学上照射式 X射线荧光光谱仪
日本理学上照射式 X射线荧光光谱仪
产品价格:¥面议(人民币)
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    商品详情

      日本理学上照射式 X射线荧光光谱仪仪器简介:
      PrimusII是理学公司奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析
      48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析.
      软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户.
      维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.


      日本理学上照射式 X射线荧光光谱仪技术参数:
      硬件:
      对应超轻元素的X射线光管
      采用4kW、30μm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。
      采用新型光学系统
      采用新型分光晶体,与代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。

       

      48样品交换器
      实现平台式共享化,
      zui多可放置48个样品。多样品交换器实现了省空间。
       

      1次X射线滤光片
      除去X射线光管的特征X射线光谱,在减低背景干扰方面发挥威力。

       

      双泵、双真空系统
      采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。
      防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的结构设计,样品交换实现更高效率。

       

      粉末附件
      电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。

       

      定点分析
      100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上点、区域、线。定点
      zui小直径500μm。
       

      采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台)
      节能、节省空间
      节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30?以下)
      PR气体流量减少(5mL/min)

      省空间
      采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护
      PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗

       

      软件
      新版SQX软件
      在RIGAKU基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。
      委托分析EZ扫描
      采用对话框形式设定,可进行SQX分析。
      定角测试模式
      微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。

       

      应用模板
      各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。

       

      散射线FP法
      不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。

       

      流程条
      测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。

       

      其它特点的软件功能
      ①SQX分析功能
      ② Mapping数据库
      ③材质辨别
      ④理论重叠校正
      ⑤自动程序运转
      ⑥校正投入量计算

       

      应用软件包
      应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品)
      CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。


      主要特点:
      特点:
      轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高
      配备高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
      重金属的高灵敏度分析-采用型光学系统
      高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm
      完美的无标样分析-SQX软件
      仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间





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