日本理学下照式X射线荧光光谱仪
日本理学下照式X射线荧光光谱仪
产品价格:¥面议(人民币)
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    商品详情

      日本理学下照式X射线荧光光谱仪技术参数:
      分析对象:4Be-92U
      分光系统:波长色散式
      X射线发生部
      X射线:端窗式Rh靶 4kW或3kW
      高压发生器:高频变频器方式
      额定电压,电流:4kW,60kV-150mA
      稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动)
      冷却水:水冷冷却水(内置)
      分光部
      样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种
      样品尺寸:51mmx30mm(H)
      分析样品面:zui大35mm
      样品旋转:30rpm
      1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr)
      视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5)
      发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件)
      接受狭缝:SC用,F-PC用
      测角仪:独立驱动
      测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度

      zui大扫描速度:1400度/min
      连续扫描:0.1-240度/min
      晶体交换:10晶体交换
      分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP
      真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件)
      氦气置换机构:带隔板
      恒温化机构:36.5度
      记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗
      衰减器:IN-OUT自动切换
      硬件:计算机:windouws PC
      软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景)
      定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板,
      样品径自动选择,谱峰分离,定精度测试,传送功能,多功能标准样品
      其它为选件
      维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断


      日本理学下照式X射线荧光光谱仪主要特点:
      硬件:
      采用新光学系统
      1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度.
      超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗)
      48样品交换器
      1次滤波片
      双真空,双泵
      粉末附件,防止污染真空泵
      定点分析:
      zui小直径500,MAPPING分辨率100
      节省空间,节能
      软件
      新的SQX软件
      委托分析EZ扫描
      定角度测试模式
      应用摸板
      散射线FP法
      流程条
      其他软件
      应用软件包




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